WSI是利用白光（多波長）的短相干長度，具有納米級高分辨率的非接觸式3D測量儀器。 非接觸式 3D 形狀測量 用于測量微表面形狀和厚度形狀的 3D 方法 當(dāng)使用白光時，形成干涉條紋的間隔很短，可以進(jìn)行精確的高度測量。 可能需要各種 2D 和 3D 圖像來獲取各種數(shù)據(jù)。 因此，F(xiàn)resnel 一直基于多年的專業(yè)知識按訂單制造各種 2D 和 3D 光學(xué)模塊。更多詳細(xì)資料，歡迎聯(lián)系我們或者點擊詢盤。
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